晶体结构测定（第二版）

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Werner Massa, University of Marburg,Department of Chemistry, Germany

Crystal Structure Determination

Second Edition

2004, 210pp.

Hardcover EUR 48.10

ISBN 3-540-20644-2

本书是按德文原著第3版翻译出版(英文版初版于1999年)，是一本关于晶体结构现代测定技术的简明引论。由于数据收集的快速自动手段及用于实施必要计算的计算机硬件和软件的巨大进展，近20多年来应用X射线进行晶体结构分析的研究领域取得飞速发展，这些方法成为现代化学研究的基本工具，对于晶体学研究尤为重要。本书为大学生掌握这些基本技术提供了合适的教材。

全书包含15章。第1章引论；第2～6章侧重论述理论背景，讲述了晶格概念、X射线衍射的几何学、互反格、结构因子及晶体对称性等基本理论；第7～15章侧重具体方法，第7章讲述获得X射线单晶结构测定的必要数据的最重要的试验方法；第8、9两章研究结构解及精细化技术；第10章讨论无序性；第11和12章研究误差和可能导致错误的“陷阱”及测定结果的表示；第13～15章给出晶体结构数据库及晶体结构测定实例。

本书理论与实际并重，注意从实用的观点讲述理论背景。虽然用到一些数学(线性代数、群论、统计)，但着眼于实例使读者能理解。第2版变化较多的是第7章，增加了不少新材料。本书主要供大学化学系、物理系有关专业师生阅读，对应用数学科研人员也有参考价值。

朱尧辰，研究员

(中国科学院应用数学研究所)

Zhu Yaochen, Professor

(Institute of Applied Mathematics,the Chinese Academy of Sciences)

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